缺陷檢測設(shè)備的原理
?1. 缺陷檢測設(shè)備檢測到的缺陷示例
劃痕和裂紋
崩裂和毛刺
污垢和凹痕
尺寸異常
位置/角度異常
異物附著/污染
形狀異常
變色
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2. 缺陷檢測機(jī)制
缺陷檢測設(shè)備檢測缺陷的機(jī)制包括圖像處理和激光掃描。
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該圖像處理方法通過處理CCD相機(jī)等相機(jī)拍攝的圖像數(shù)據(jù)來進(jìn)行缺陷檢測。該系統(tǒng)涉及提前登記合格產(chǎn)品的信息,并將其與拍攝的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以確定產(chǎn)品是否合格。此外,近年來,使用人工智能檢測缺陷的系統(tǒng)也已被采用。
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激光掃描方法包括將光學(xué)激光照射到目標(biāo)物體上并分析反射光以檢查表面劃痕和缺陷。一般來說,這種方法比圖像處理方法能夠?qū)崿F(xiàn)更為準(zhǔn)確的檢查。有些產(chǎn)品還能夠檢測內(nèi)部缺陷。激光器有三種類型:平行光束型、聚焦激光型和可變焦型。平行光束型可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定照射,而聚焦激光型則具有檢查精度高的特點(diǎn)。變焦方法克服了激光聚焦方法聚焦光斑不穩(wěn)定的弱點(diǎn)。